Krzysztof Sikorski

W książce opisano procesy oddziaływania elektronów z materiałem próbki oraz scharakteryzowano mikroobjętość określającą przestrzenną rozdzielczość mikroanalizy. Omówiono współcześnie stosowane metody detekcji promieniowania X oraz podstawowe techniki mikroanalizy. Określono optymalne warunki prowadzenia analiz oraz ich możliwości i ograniczenia. Przedstawiono standardowe metody…